硅材料復(fù)合測(cè)試儀SZT-5是一款專為硅基材料性能分析設(shè)計(jì)的智能化檢測(cè)設(shè)備，適用于半導(dǎo)體、光伏、電子元件制造等領(lǐng)域的材料研發(fā)與品質(zhì)管控環(huán)節(jié)。該設(shè)備通過集成多維度測(cè)試模塊，可對(duì)硅材料的力學(xué)特性、熱學(xué)響應(yīng)及電學(xué)參數(shù)進(jìn)行同步或獨(dú)立檢測(cè)，為材料性能優(yōu)化提供全面數(shù)據(jù)支持。
在技術(shù)設(shè)計(jì)上，SZT-5采用模塊化架構(gòu)，支持薄膜、塊體、粉末等不同形態(tài)樣品的兼容測(cè)試。設(shè)備搭載高靈敏度傳感器陣列，能夠?qū)崿F(xiàn)0.1μN級(jí)別的微力檢測(cè)和0.01℃級(jí)別的溫度分辨率，滿足納米級(jí)硅材料薄膜的精密測(cè)試需求。熱學(xué)分析模塊可模擬-50℃至600℃環(huán)境下的材料行為變化，支持連續(xù)梯度測(cè)試和定點(diǎn)循環(huán)測(cè)試兩種模式。電學(xué)測(cè)試單元配備四探針接觸系統(tǒng)，在避免接觸電阻干擾的前提下，準(zhǔn)確獲取材料的電阻率、載流子遷移率等關(guān)鍵參數(shù)。
設(shè)備配置智能化操作界面，通過7英寸觸控屏實(shí)現(xiàn)參數(shù)設(shè)置、過程監(jiān)控和數(shù)據(jù)預(yù)覽功能。內(nèi)置數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)可自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)告，支持多維度數(shù)據(jù)對(duì)比分析和趨勢(shì)圖譜繪制。針對(duì)工業(yè)場(chǎng)景需求，設(shè)備特別設(shè)計(jì)了防震底座和電磁屏蔽結(jié)構(gòu)，確保復(fù)雜環(huán)境下的測(cè)試穩(wěn)定性。
SZT-5適用于單晶硅、多晶硅、非晶硅等多種硅基材料的綜合性能評(píng)估，在太陽(yáng)能電池片品質(zhì)檢測(cè)、半導(dǎo)體晶圓工藝優(yōu)化、新型硅基復(fù)合材料研發(fā)等領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用價(jià)值。設(shè)備采用可擴(kuò)展設(shè)計(jì)，用戶可根據(jù)實(shí)際需求選配紅外光譜聯(lián)用模塊或真空測(cè)試腔體，實(shí)現(xiàn)更復(fù)雜的復(fù)合測(cè)試場(chǎng)景。售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)提供設(shè)備調(diào)試、操作培訓(xùn)和定期維護(hù)支持，保障設(shè)備的長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行。
