MX-IR / BX-IR半導(dǎo)體/FPD檢查顯微鏡四川省樂山市注意什么
USPM-RU III鏡片反射率測定儀
USPM-RU III反射儀可精確測量當(dāng)前分光儀無法測量的微小、超薄樣本的光譜反射率，不會與樣本背面的反射光產(chǎn)生干涉。 是最適合測量曲面反射率、鍍膜評價、微小部品的反射率測定系統(tǒng)。用物鏡對焦于樣本表面的微小光斑（?60 μm），可以測定鏡片曲面及鍍膜層是否均勻。
1、采用特殊光學(xué)系統(tǒng)，消除背面反射光。
2、不必進行背面的防反射處理，可正確測定表面的反射率。
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