TOFD相控陣V-1（IIW1）與V-2 CBI CSIII試塊是專為無損檢測領(lǐng)域設(shè)計的高精度檢測輔助工具，適用于工業(yè)制造、能源設(shè)備、軌道交通等領(lǐng)域的超聲波檢測系統(tǒng)校準(zhǔn)與性能驗證。該系列產(chǎn)品通過優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計與材料選型，能夠有效支持TOFD（衍射時差法）及相控陣技術(shù)的檢測需求，為檢測結(jié)果的可靠性和一致性提供基礎(chǔ)保障。
V-1（IIW1）試塊采用特殊合金材料精密加工而成，表面經(jīng)過高精度研磨處理，內(nèi)部包含多種幾何特征反射體，可模擬不同深度、角度的缺陷形態(tài)。其設(shè)計充分考慮了檢測工藝的多樣性需求，能夠滿足常規(guī)焊縫、板材及管材的檢測參數(shù)調(diào)試需求，幫助操作人員快速完成設(shè)備靈敏度校準(zhǔn)與檢測能力驗證。
V-2 CBI CSIII試塊在V-1基礎(chǔ)上進(jìn)行了功能擴(kuò)展，創(chuàng)新性地融合了多組曲面反射結(jié)構(gòu)，特別適用于復(fù)雜幾何形狀工件的檢測場景。試塊通過階梯狀槽孔設(shè)計和多角度反射面布局，可輔助檢測系統(tǒng)完成聲束聚焦性能評估、分辨率測試及角度補(bǔ)償參數(shù)優(yōu)化。其緊湊的模塊化設(shè)計便于現(xiàn)場攜帶，表面防腐蝕處理工藝延長了產(chǎn)品使用壽命，適用于實驗室與工業(yè)現(xiàn)場的多場景應(yīng)用。
該系列試塊在制造過程中采用嚴(yán)格的質(zhì)量控制流程，通過多道精密機(jī)加工工序確保尺寸精度達(dá)到微米級，同時運(yùn)用特殊熱處理技術(shù)提升材料穩(wěn)定性。產(chǎn)品可幫助用戶建立檢測基準(zhǔn)，優(yōu)化檢測方案，提升缺陷識別能力，為各類金屬構(gòu)件的安全評估提供數(shù)據(jù)支持。配套提供的技術(shù)指導(dǎo)服務(wù)，可根據(jù)具體應(yīng)用場景提供操作建議，幫助用戶充分發(fā)揮檢測設(shè)備性能。
