M1型磁粉試片是專為磁粉探傷工藝開發(fā)的功能性輔助工具，主要用于探傷設(shè)備性能驗(yàn)證及檢測靈敏度調(diào)節(jié)。該產(chǎn)品通過模擬工件表面及近表面缺陷的磁痕顯示效果，幫助操作人員直觀判斷磁化參數(shù)、磁懸液濃度等關(guān)鍵工藝參數(shù)的合理性，從而提升探傷檢測的可靠性與一致性。
試片采用優(yōu)質(zhì)導(dǎo)磁材料精密加工而成，主體結(jié)構(gòu)包含若干經(jīng)特殊工藝處理的微米級人工刻槽。這些刻槽設(shè)計(jì)遵循磁場分布規(guī)律，能夠在磁化過程中形成清晰可辨的磁痕顯示�；w材料經(jīng)過嚴(yán)格的熱處理工藝，確保其導(dǎo)磁性能穩(wěn)定，避免因材料特性差異導(dǎo)致檢測結(jié)果偏差。表面覆蓋的防氧化涂層有效延長了試片使用壽命，同時(shí)不影響磁痕顯示的對比度。
在應(yīng)用場景中，該試片適用于各類磁粉探傷設(shè)備，包括固定式探傷機(jī)、移動(dòng)式磁軛等不同磁化方式的檢測系統(tǒng)。操作時(shí)只需將試片貼合于被測工件表面，通過觀察人工缺陷的磁痕顯示完整性，即可快速驗(yàn)證磁化場強(qiáng)度是否滿足檢測需求。其輕量化設(shè)計(jì)便于攜帶，特別適合野外作業(yè)或現(xiàn)場檢測場景，可配合不同規(guī)格工件靈活使用。
產(chǎn)品優(yōu)勢體現(xiàn)在三個(gè)方面：其一，刻槽精度控制在微米級別，能準(zhǔn)確反映0.1-0.2mm級細(xì)微缺陷的檢測靈敏度；其二，基體材料的磁導(dǎo)率經(jīng)過優(yōu)化匹配，有效降低磁化電流波動(dòng)對檢測結(jié)果的影響；其三，特殊表面處理工藝使試片具備良好的環(huán)境適應(yīng)性，在高溫、高濕或存在輕微油污的工作環(huán)境下仍能保持穩(wěn)定的顯示效果。
維護(hù)方面，建議定期使用專用清潔劑清除試片表面殘留磁粉，存放時(shí)避免與強(qiáng)磁性物質(zhì)接觸。當(dāng)刻槽邊緣出現(xiàn)明顯磨損或磁痕顯示模糊時(shí)需及時(shí)更換，以確保檢測校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性。本產(chǎn)品經(jīng)實(shí)驗(yàn)室驗(yàn)證，在常規(guī)工業(yè)環(huán)境下可保持2000次以上的有效使用次數(shù)。
