HN5000S 5MHz LCR數(shù)字電橋產(chǎn)品介紹
HN5000S是一款專為高頻電子元件測試設(shè)計的高性能LCR數(shù)字電橋，可滿足通信設(shè)備、射頻電路、高頻元器件等領(lǐng)域的精密測量需求。該設(shè)備在5MHz測試頻率下提供可靠的參數(shù)分析能力，通過優(yōu)化信號源穩(wěn)定性和抗干擾算法，確保高頻段測量結(jié)果具備良好的重復(fù)性與準(zhǔn)確性。
在核心功能層面，HN5000S支持L（電感）、C（電容）、R（電阻）、D（損耗因數(shù)）、Q（品質(zhì)因數(shù)）等十余種參數(shù)測量，基礎(chǔ)測量精度達到0.05%，量程覆蓋從毫歐級到兆歐級的寬廣范圍。設(shè)備內(nèi)置自動電平調(diào)節(jié)（ALC）功能，可在10mV至2V范圍內(nèi)智能調(diào)節(jié)測試信號電壓，有效適配不同規(guī)格元件的測試條件要求。針對高頻測試場景，特別設(shè)計了低殘余阻抗電路結(jié)構(gòu)，將測試端子殘余電感控制在2nH以內(nèi)，顯著提升高頻參數(shù)測量可信度。
用戶交互方面，設(shè)備配備7英寸彩色觸控屏，支持多點觸控操作與圖形化參數(shù)顯示。測試結(jié)果可通過趨勢圖、直方圖等可視化形式呈現(xiàn)，便于快速分析元件參數(shù)分布特性。內(nèi)置存儲模塊可記錄200組測試配置方案及10000條測量數(shù)據(jù)，支持通過USB或LAN接口進行數(shù)據(jù)導(dǎo)出。為提高測試效率，設(shè)備支持列表掃描功能，可按照預(yù)設(shè)參數(shù)序列自動完成多頻率點連續(xù)測量。
HN5000S適用于半導(dǎo)體器件研發(fā)、射頻模組生產(chǎn)、無線通信設(shè)備維護等場景，能夠?qū)Ω哳l電感器、微波電容器、射頻濾波器等元件進行精確表征。相較于常規(guī)LCR設(shè)備，該產(chǎn)品在高頻段測試穩(wěn)定性與溫度漂移控制方面進行了專項優(yōu)化，可在15℃-35℃環(huán)境溫度范圍內(nèi)保持±0.02%/℃的溫漂系數(shù)。設(shè)備采用模塊化設(shè)計架構(gòu)，支持后期功能擴展與軟件升級，為不同階段的測試需求提供靈活的技術(shù)支持。
售后服務(wù)體系包含設(shè)備校準(zhǔn)周期提醒、遠程診斷支持等增值服務(wù)，幫助用戶持續(xù)保持設(shè)備的測量可靠性。通過平衡測試性能與使用成本，HN5000S為高頻電子元件測試提供了具有實用價值的解決方案。
