Agilent4263B與HP4263B LCR測試電橋產(chǎn)品介紹
Agilent4263B與HP4263B是專為電子元件精密測量設(shè)計的LCR測試儀器，適用于研發(fā)、生產(chǎn)及質(zhì)量控制等場景。兩款設(shè)備采用高精度電路設(shè)計，可在20 Hz至1 MHz頻率范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定、可重復(fù)的阻抗參數(shù)測量，滿足電感（L）、電容（C）、電阻（R）等基礎(chǔ)元件的高效檢測需求。
Agilent4263B在繼承HP4263B經(jīng)典測試架構(gòu)的基礎(chǔ)上，優(yōu)化了操作界面與數(shù)據(jù)處理能力。設(shè)備配備4.3英寸彩色顯示屏，支持直觀的菜單導(dǎo)航與實(shí)時圖形化數(shù)據(jù)顯示，有效提升操作效率。內(nèi)置多檔測試信號電平（5 mV至1 V），可適配不同規(guī)格元件的測試需求，尤其適用于小信號元件的精準(zhǔn)測量。通過標(biāo)配的HANDLER接口和RS-232通信接口，設(shè)備可輕松接入自動化測試系統(tǒng)，支持批量檢測場景下的數(shù)據(jù)同步與流程控制。
HP4263B作為經(jīng)典機(jī)型，憑借穩(wěn)定的測試性能與長期可靠性，在電子制造領(lǐng)域積累了廣泛的應(yīng)用案例。其直流偏置功能可支持±40 V電壓疊加測試，為電解電容、磁性元件等特殊器件的特性分析提供有效解決方案。兩款設(shè)備均采用模塊化電路設(shè)計，具備良好的抗干擾能力，在復(fù)雜電磁環(huán)境中仍能保持測量一致性。
Agilent4263B與HP4263B適用于半導(dǎo)體器件、被動元件、通信模塊等產(chǎn)品的研發(fā)驗(yàn)證與產(chǎn)線檢測，為實(shí)驗(yàn)室、質(zhì)檢部門及電子生產(chǎn)企業(yè)提供靈活的測試方案。設(shè)備支持自定義測試條件存儲功能，用戶可根據(jù)不同測試需求快速調(diào)用預(yù)設(shè)參數(shù)，顯著提升工作效率。我們提供專業(yè)的技術(shù)支持與設(shè)備維護(hù)服務(wù)，確保儀器在全生命周期內(nèi)保持優(yōu)良性能。
