日本NAPSON非接觸接觸式二合一面電阻測試儀DUORES
產(chǎn)品概述
日本NAPSON公司推出的DUORES是一款創(chuàng)新型手持式面電阻測試儀，采用獨創(chuàng)的雙探頭可替換設(shè)計，兼具非接觸式渦流測試與接觸式四探針測試兩種測量模式，能夠適應(yīng)不同材質(zhì)和測量需求的電阻測試場景。儀器主機尺寸僅80×210×36mm，重量約350g，便于現(xiàn)場攜帶和操作。該設(shè)備支持AC100-240V寬電壓輸入，也可使用DC9V電池供電，滿足24小時連續(xù)工作需求。1
核心技術(shù)特點
DUORES的核心優(yōu)勢在于其模塊化探頭系統(tǒng)，用戶可根據(jù)被測材料特性靈活選擇渦流探頭（測量范圍0.5-200Ω/sq）或四探針探頭（測量范圍0.1-4000Ω/sq）。兩種探頭均支持自動觸發(fā)測量功能，當(dāng)探頭接觸樣品表面時立即啟動檢測流程。儀器采用4位浮點顯示屏，可存儲100組測量數(shù)據(jù)，并通過USB接口實現(xiàn)數(shù)據(jù)導(dǎo)出。其非接觸式探頭采用φ25mm大面積傳感設(shè)計，接觸式探頭測試面積為3mm，確保測量精度與操作便利性。27
應(yīng)用場景說明
該設(shè)備適用于多種導(dǎo)電材料的電阻測量，包括但不限于ITO/TCO導(dǎo)電薄膜、LOW-E玻璃、納米銀線等金屬網(wǎng)格材料，以及各類柔性薄膜、紙張和玻璃基板。其非接觸模式特別適合表面易損或需要無損檢測的樣品，而接觸模式則適用于需要更高精度的常規(guī)測量。儀器對不同尺寸樣品具有良好適應(yīng)性，只要測試區(qū)域大于探頭尺寸即可完成測量。13
測量性能表現(xiàn)
在測量精度方面，DUORES非接觸探頭在0.5-100Ω/sq范圍內(nèi)重復(fù)性誤差≤3.0%，100-200Ω/sq范圍≤5.0%；四探針探頭精度可達(dá)±0.5%。設(shè)備提供Ω/□、S/□和金屬膜厚度(n/m)三種單位顯示，并能通過軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)分析和處理。隨機配置包含主機、雙探頭、標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片及充電器，用戶可根據(jù)實際需要選擇單一探頭配置方案。310
操作體驗優(yōu)化
儀器設(shè)計注重用戶體驗，配備智能感應(yīng)功能簡化操作流程，探頭接觸樣品即自動測量。JOG旋鈕設(shè)計便于快速設(shè)置參數(shù)，3.5英寸觸摸屏直觀顯示測量數(shù)據(jù)。設(shè)備具有環(huán)境適應(yīng)性強的特點，在復(fù)雜工業(yè)環(huán)境下仍能保持穩(wěn)定性能，是研發(fā)檢測和生產(chǎn)質(zhì)量控制環(huán)節(jié)的理想工具。69
日本NAPSON非接觸接觸式二合一面電阻測試儀DUORES
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