M-3便攜式手持式薄膜方阻測(cè)試儀四探針電阻率測(cè)試儀ITO膜方阻儀
產(chǎn)品概述
M-3便攜式手持式薄膜方阻測(cè)試儀是一款基于四探針測(cè)量原理設(shè)計(jì)的多功能綜合測(cè)量?jī)x器，適用于半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜及涂層的電阻率和方塊電阻測(cè)試。該儀器采用輕觸按鍵輸入設(shè)計(jì)，具備零位和滿度自校功能，支持手動(dòng)/自動(dòng)量程轉(zhuǎn)換，測(cè)試結(jié)果通過(guò)高亮數(shù)碼管清晰顯示，適用于實(shí)驗(yàn)室、生產(chǎn)線及野外等多種場(chǎng)景。16
核心功能與特點(diǎn)
儀器采用可充電鋰電池供電，續(xù)航時(shí)間長(zhǎng)達(dá)48小時(shí)，滿足移動(dòng)測(cè)試需求。其探頭可根據(jù)材料特性靈活選配，包括高耐磨碳化鎢探針（適用于硅片、金屬等硬質(zhì)材料）和球形鍍金銅合金探針（適用于ITO膜、納米涂層等柔性材料）。通過(guò)更換四端子夾具，還可擴(kuò)展用于電阻器體電阻或金屬導(dǎo)體電阻測(cè)量。測(cè)試范圍覆蓋0.010Ω~50.00kΩ電阻及0.050Ω~100.0kΩ/□方塊電阻，分辨率達(dá)0.001Ω。38
應(yīng)用場(chǎng)景
該設(shè)備廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體材料廠、科研機(jī)構(gòu)及高校，可測(cè)試硅片、導(dǎo)電塑料、金屬鍍膜、鋰電池極片涂層等多種材料的導(dǎo)電性能。針對(duì)不同基底材料（如玻璃、陶瓷、PE膜）上的導(dǎo)電薄膜（如ITO膜、噴涂膜），儀器能提供穩(wěn)定精確的測(cè)量數(shù)據(jù)。其緊湊設(shè)計(jì)（10cm×3.6cm×21cm）和0.3kg的輕量化機(jī)身，顯著提升了操作便捷性。710
技術(shù)優(yōu)勢(shì)
儀器內(nèi)置厚度與形狀修正功能，通過(guò)五檔量程自動(dòng)切換減少人為誤差。測(cè)試數(shù)據(jù)可通過(guò)LED數(shù)字表頭實(shí)時(shí)顯示，強(qiáng)光或昏暗環(huán)境下均能清晰讀數(shù)。選配測(cè)試臺(tái)后可升級(jí)為臺(tái)式測(cè)試系統(tǒng)，支持180mm×180mm樣品直接測(cè)試，滿足不同尺寸材料的檢測(cè)需求。1323
M-3便攜式手持式薄膜方阻測(cè)試儀四探針電阻率測(cè)試儀ITO膜方阻儀
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